XTU-50B 鍍層膜厚分析儀能量色散熒光光譜儀X射線熒光光譜儀是公司經(jīng)過(guò)3年研發(fā)，專(zhuān)門(mén)針對(duì)金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達(dá)克羅涂覆層分析的普及機(jī)型，三重射線防護(hù)系統(tǒng)；人性化操作界面；*的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件，可不用標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定，即可對(duì)客戶樣品鍍層膜厚測(cè)試、基材成分分析。精心設(shè)計(jì)的開(kāi)放式工作曲線功能，特別適用于工藝復(fù)雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。

XTU-50B 鍍層膜厚分析儀能量色散X熒光光譜儀

一、產(chǎn)品型號(hào)

二、儀器簡(jiǎn)介

2.1 儀器概述

XTU-50B 鍍層膜厚分析儀能量色散熒光光譜儀X射線熒光光譜儀是公司經(jīng)過(guò)3年研發(fā)，專(zhuān)門(mén)針對(duì)金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達(dá)克羅涂覆層分析的普及機(jī)型，三重射線防護(hù)系統(tǒng)；人性化操作界面；*的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件，可不用標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定，即可對(duì)客戶樣品鍍層膜厚測(cè)試、基材成分分析。精心設(shè)計(jì)的開(kāi)放式工作曲線功能，特別適用于工藝復(fù)雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。

2.2  XTU-50B 鍍層膜厚分析儀能量色散熒光光譜儀性能優(yōu)勢(shì)

1.*的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件，可不用標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定，即對(duì)樣品鍍層膜厚進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)試

2.除可對(duì)金屬鍍層測(cè)試外，還可對(duì)合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進(jìn)行精確測(cè)量，開(kāi)創(chuàng)了XRF對(duì)鍍層測(cè)厚的全面技術(shù)

3.軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀和大小自動(dòng)設(shè)定光管功率，既能延長(zhǎng)光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測(cè)器性能，大幅提高測(cè)量精度

4.業(yè)內(nèi)*提供開(kāi)放式工作曲線標(biāo)定平臺(tái),可為每家用戶量身定做*的鍍層分析工作曲線

5.三重射線防護(hù)（軟件、硬件、迷宮設(shè)計(jì)），確保操作人員人身安全與意外操作帶來(lái)的輻射傷害

6.儀器外部對(duì)樣品微調(diào)設(shè)計(jì)，降低及防止樣品放置好后關(guān)閉樣品蓋產(chǎn)生振動(dòng)而使測(cè)試位置發(fā)生變化導(dǎo)致的測(cè)試不準(zhǔn)確性

7.可根據(jù)用戶要求自行定制測(cè)試報(bào)告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統(tǒng)計(jì)及格式要求

8.業(yè)內(nèi)*家對(duì)達(dá)克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法，*取代金相顯微鏡技術(shù)在該行業(yè)的應(yīng)用

9.軟件對(duì)多次測(cè)試結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析功能

10.業(yè)內(nèi)*家既可以測(cè)試鍍層厚度，又可以同時(shí)分析基材及鍍層成分的XRF

2.3  XTU-50B 鍍層膜厚分析儀能量色散熒光光譜儀技術(shù)指標(biāo)

1、儀器尺寸：550(W)x480(D)x470(H)mm

2、樣品腔尺寸：500*360*215mm；

3、zui低檢測(cè)厚度：0.005um

4、檢測(cè)厚度上限，50 - 80um（視材料而定）

5、zui多測(cè)試層數(shù)：10層

6、zui小測(cè)量面積：0.002mm

7、*分辨率：見(jiàn)下面探測(cè)系統(tǒng)詳細(xì)參數(shù)說(shuō)明

8、準(zhǔn)直器：Φ0.1mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動(dòng)切換

9、濾光片：5種濾光片自動(dòng)切換

10、CCD觀察：260萬(wàn)像素高清CCD

11、樣品微動(dòng)范圍：XY50mm

12、輸入電源：AC220V～240V，50/60Hz

13、額定功率：350W

14、重量：約45Kg

15、工作環(huán)境溫度：溫度15—30℃

16、工作環(huán)境相對(duì)濕度：≤85%（不結(jié)露）

17、穩(wěn)定性:多次測(cè)量重復(fù)性誤差小于0.1%