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    PRODUCTS CENTER

    產(chǎn)品展示

    當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品展示測(cè)厚儀XDV-µ涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x

    XDV-µ涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

    XDV-µ涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測(cè)量和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡,光斑直徑(FWHM)可達(dá)10至60&#181;m。短時(shí)間內(nèi)就可形成高強(qiáng)度聚焦射線。除了通用型XDV-&#181;型儀器,還有專門為電子和半導(dǎo)體行業(yè)而設(shè)計(jì)的儀器。如XDV-&#181; LD是專為測(cè)量線路板而優(yōu)化的,而XDV-&#181;

    產(chǎn)品型號(hào):

    更新時(shí)間:2020-12-10

    廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

    訪 問(wèn) 量 :8310

    服務(wù)熱線

    0574-86861636

    立即咨詢
    產(chǎn)品介紹

    XDV-µ涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x

    特點(diǎn):

    • Advanced polycapillary X-ray optics that focus the X-rays onto extremely small measurement surfaces
    • *多毛細(xì)管透鏡,可將X射線聚集到極微小的測(cè)量面上
    • 現(xiàn)代化的硅漂移探測(cè)器(SDD),確保*的檢測(cè)靈敏度
    • 可用于自動(dòng)化測(cè)量的超大可編程樣品平臺(tái)
    • 為特殊應(yīng)用而專門設(shè)計(jì)的儀器,包括:
      • XDV-μ LD,擁有較長(zhǎng)的測(cè)量距離(至少12mm
      • XDV-μLEAD FRAME,特別為測(cè)量引線框架鍍層如Au/Pd/Ni/CuFe等應(yīng)用而優(yōu)化
      • XDV-μ wafer,配備全自動(dòng)晶圓承片臺(tái)系統(tǒng)

    XDV-µ涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x應(yīng)用:

    鍍層厚度測(cè)量

    • 測(cè)量未布元器件和已布元器件的印制線路板
    • 在納米范圍內(nèi)測(cè)量復(fù)雜鍍層系統(tǒng),如引線框架上Au/Pd/Ni/CuFe的鍍層厚度
    • 對(duì)大12英寸直徑的晶圓進(jìn)行全自動(dòng)的質(zhì)量監(jiān)控
    • 在納米范圍內(nèi)測(cè)量金屬化層(凸塊下金屬化層,UBM
    • 遵循標(biāo)準(zhǔn) DIN EN ISO 3497 ASTM B568

    材料分析

    • 分析諸如Na等極輕元素
    • 分析銅柱上的無(wú)鉛化焊帽
    • 分析半導(dǎo)體行業(yè)中C4或更小的焊料凸塊以及微小的接觸面
    • 鍍層厚度測(cè)量

    • 測(cè)量未布元器件和已布元器件的印制線路板
    • 在納米范圍內(nèi)測(cè)量復(fù)雜鍍層系統(tǒng),如引線框架上Au/Pd/Ni/CuFe的鍍層厚度
    • 對(duì)大12英寸直徑的晶圓進(jìn)行全自動(dòng)的質(zhì)量監(jiān)控
    • 在納米范圍內(nèi)測(cè)量金屬化層(凸塊下金屬化層,UBM
    • 遵循標(biāo)準(zhǔn) DIN EN ISO 3497  ASTM B568
    • 材料分析

    • 分析諸如Na等極輕元素
    • 分析銅柱上的無(wú)鉛化焊帽
    • 分析半導(dǎo)體行業(yè)中C4或更小的焊料凸塊以及微小的接觸面
    • 鍍層厚度測(cè)量

    • 測(cè)量未布元器件和已布元器件的印制線路板
    • 在納米范圍內(nèi)測(cè)量復(fù)雜鍍層系統(tǒng),如引線框架上Au/Pd/Ni/CuFe的鍍層厚度
    • 對(duì)大12英寸直徑的晶圓進(jìn)行全自動(dòng)的質(zhì)量監(jiān)控
    • 在納米范圍內(nèi)測(cè)量金屬化層(凸塊下金屬化層,UBM
    • 遵循標(biāo)準(zhǔn) DIN EN ISO 3497  ASTM B568
    • 材料分析

    • 分析諸如Na等極輕元素
    • 分析銅柱上的無(wú)鉛化焊帽
    • 分析半導(dǎo)體行業(yè)中C4或更小的焊料凸塊以及微小的接觸面
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